中性密度滤光片是在K9光学玻璃基底上
，镀分歧光密度金属膜
，使其在从可见光到近红表光区的宽波段内维持近似相称的能量透过率。来实现对激光的有效吸收．由于危险阈值较低
，严沉限度了其在高能激光系统中的利用。

尝试钻研了较高激光能量密度下滤光片的危险描摹和危险机理．危险描摹的变动特点是：随着激光能量密度的增长
，滤光片先出现危险点
，后以危险点为中心产生裂纹
，且裂纹长度逐步变长
，最终衔接成线状和块状
，导致大面积的薄膜脱落．成立了缺点吸收激光能量升温致中性密度滤光片表表薄膜危险的模型
，推算了薄膜表表的温度和应力散布
，会商了薄膜表表不均匀温升造成的径向、环向和轴向扰爪力散布。理论分析显示：环向应力是造成溥膜沿径向产生裂纹的重要原因
，当激光能量密度大于约2.2 J/cm2
，杂质粒子半径大于140 nm且相邻杂质粒子之间的距离幼于10 pm时
，裂纹能力大量衔接起来引起薄膜的大面积脱落。 

滤光片能够衰减光强度
，扭转光谱成分或限造振动面
，所以被宽泛利用于光学尝试中．但是滤光片在高能激光系统中是极易危险的
，钻研它的危险机理对于提高高能激光系统的机能有沉要的意思。

滤光片是镀膜元件
，它的危险重要集中在膜层。国内表对于杂质诱导薄膜危险的理论钻研有好多
，基于杂质吸收的热机械过程
，薄膜的危险概率与杂质密度、杂质尺寸、杂质填埋深度、激光功率密度、薄膜厚度都有肯定的关系。以杂质粒子强吸收和热辐射模型为基础
，结合热传导方程、热弹性方程等钻研发现杂质粒子诱导薄膜危险过程中薄膜出现了块状、环状和坑状危险
，危险的大幼与激光能量密度和杂质填满深度蹬仔关。

以上的钻研工作重要集中在激光作用于薄膜引起的薄膜层裂
，而对薄膜表表的径向裂纹和径向裂纹衔接起来引起的薄膜脱落
，报路较少
，因比对该问题的钻研是很有必要的。 

本文对中性密度滤光片的危险描摹及其演化过程进行了观测
，分析强吸收杂质粒子对薄膜危险的诱导作用
，会商了激光能量密度、杂质粒子的尺寸和散布密度对滤光片危险的影响。