几种常用光纤测试仪器的机能介绍
常用光纤测试表有：光功率计、不变光源、光万用表、光时域反射仪和光故障定位仪 。
光功率计:用于丈量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗 。在光纤系统中 ，丈量光功率是最根基的 。极度像电子学中的万用表 ，在光纤丈量中 ，光功率计是沉负荷常用表 ，光纤技术人员应该人手一个 。通过丈量发射端机或光网络的绝对功率 ，一台光功率计就可能*价光端设备的机能 。用光功率计与不变光源组合使用 ，则可能丈量衔接损耗、检验陆续性 ，并援手*估光纤链路传输质量 。
（图源网络 ，侵删）
不变光源:对光系统发射已知功率和波长的光 。不变光源与光功率计结合在一路 ，能够丈量光纤系统的光损耗 。对现成的光纤系统 ，通常也可把系统的发射端机当作不变光源 。若是端机无法工作或没有端机 ，则必要单独的不变光源 。不变光源的波长应与系统端机的波长尽可能一致 。在系统装置结束后 ，时时必要丈量端到端损耗 ，以便确定衔接损耗是否满足设计要求 ，如：丈量衔接器、接续点的损耗以及光纤本体损耗 。
光万用表:用来丈量光纤链路的光功率损耗 。有以下两种光万用表：
1、由独立的光功率计和不变光源组成 。
2、光功率计和不变光源结合为一体的集成测试系统 。
在短距离局域网中 ，端点距离在步行或发言之内 ，技术人员可在肆意一端成功地使用经济性组合光万用表 ，一端使用不变光源另一端使用光功率计 。对远程网络系统 ，技术人员应该在每端设备齐全的组合或集成光万用表 。
当选择仪表时 ，温度或许是最严格的尺度 。现场便携式设备应在-18℃至50℃
光时域反射仪及故障定位仪:阐发为光纤损耗与距离的函数 。借助于otdr ，技术人员可能看到整个系统概括 ，鉴别并丈量光纤的跨度、接续点和衔接头 。在诊断光纤故障的仪表中 ，otdr是最经典的 ，也是最昂贵的仪表 。与光功率计和光万用表的两端测试分歧 ，otdr仅通过光纤的一端就可测得光纤损耗 。otdr轨迹线给出系统衰减值的地位和大幼 ，如：任何衔接器、接续点、光纤异形、或光纤断点的地位及其损耗大幼 。
otdr可被用于以下三个方面：
1、在敷设前相识光缆的个性 。
2、得到一段光纤的信号轨迹线波形 。
3、在问题增长和衔接情况江河日下时 ，定位严沉故障点 。
故障定位仪是otdr的一个特殊版本 ，故障定位仪能够自动发现光纤故障地点 ，而不需otdr的复杂操作步骤 ，其价值也只是otdr的几分之一 。
选择光纤测试仪表 ，通常需思考以下四个方面的成分：即确定你的系统参数、工作环境、比力机能身分、仪表的守护
工作波长三个重要的传输窗口为850nm ，1300nm及1550nm 。
光源种类：在短距离利用中 ，由于经济实用的原因 ，大无数低速局域网lan(100mbs使用激光光源长距离传输信号 。
光纤种类以及芯/涂覆层直径：尺度单模光纤为9/125um ，只管某些其它特殊单模光纤应该仔细辨认 。典型的多模光纤蕴含50/125、62.5/125、100/140和200/230um 。
衔接器种类：国内常见的衔接器蕴含：fc-pc ，fc-apc ，sc-pc ，sc-apc ，st等 。最新的衔接器则有：lc ，mu ，mt-rj等
损耗估算/系统的容限 。
对用户/采办者来讲 ，选择一台野阐发场用仪表 ，温度尺度或许是最严格的 。通常 ，野阐发场丈量必须在严格的环境中使用 ，推荐现场便携式仪表的工作温杜爪该从-18℃~50℃ ，同时储运温度为-40~+60℃ 。尝试室的仪器仅需在较窄的节造领域5~50℃工作 。
不像尝试室仪表可能选取互换供电 ，现场便携式仪表对仪表电源通常要求较为刻薄 ，不然会影响工作效能 。另表 ，仪器的电源供电问题还时时是引起仪器故障或败坏的一个沉要诱因 。因而 ，用户应该思考和衡量如下成分：
1、内装电池的地位应便于用户更换 。
2、新电池或满充电池的至少工作功夫要达到10幼时 。然而电池工作寿命的指标值应在40~50幼时以上 ，以确保技术人员和仪器的最佳工作效能 。
3、使用电池的型号越通常越好 ，如通用9v或1.5v五号干电池等 ，由于这些通用电池极度容易当场找到或购得 。
4、通常干电池优于可充电电池 ，由于充电电池大多存在“影象”问题、包装不尺度、不容易买到、环保问题等 。
以前 ，要找到切合上述所有四个尺度的便携式测试仪器险些是不成能的 。此刻 ，选取最现代cmos电路造作技术的艺术化光功率计 ，仅用通常五号干电池 ，即可工作100幼时以上 。另表一些尝试室型号提供双电源以增长其适应性 。
如同手提电话一样 ，光纤测试仪表同样拥有多多的表观包装大局 。低于1.5公斤的手持式表通常没有很多虚饰 ，只提供根基职能和机能;半便携式仪表通常具备更复杂的或扩大的职能;尝试室仪器是专为节造尝试室/出产场所设计的 ，具备ac供电 。
比力机能身分：这里是选择步骤的第三步 ，蕴含每种光测试设备的具体分析 。